Nouveau record mondial de rayons X: scruter l’intérieur d’une puce informatique avec une résolution de 4 nanomètres
Villigen, 2.8.2024 - En collaboration avec l’EPFL, l’ETH Zurich et l’University of Southern California, des chercheurs ont utilisé à l’Institut Paul Scherrer PSI des rayons X pour scruter l’intérieur d’une puce informatique avec une précision inégalée à ce jour. Leurs prises de vue marquent un nouveau record du monde avec une résolution de 4 nanomètres. Les images tridimensionnelles à haute résolution qui peuvent être produites grâce à ce procédé permettent de faire des progrès aussi bien dans les technologies de l'information que dans les sciences de la vie. Les chercheurs rapportent leurs résultats dans le numéro actuel de la revue spécialisée Nature.