Imager des échantillons qui fluctuent à l'aide de rayons X
Villigen, 7.2.2013 - Les rayons X permettent d'observer l'intérieur de structures autrement inaccessibles à l'aide de lumière visible. Ils sont notamment utilisés pour inspecter à l'échelle nanométrique des échantillons divers tels que la structure de cellules biologiques et l'organisation de domaines magnétiques de disques durs. Malgré ses succès, l'imagerie par rayons X à haute résolution impose des contraintes énormes sur le microscope ainsi que sur les échantillons d'intérêt. Des chercheurs à la Technische Universität München, Allemagne, et à l'institut Paul Scherrer, Suisse, ont récemment découvert comment relaxer ces contraintes sans réduction de qualité des images. Ils ont de plus démontré comment peuvent être imagées les fluctuations rapides à l'intérieur de certains objets, tels l'inversion spontanée de domaines dans les dispositifs à mémoire magnétique. Ils ont démontré leur méthode grâce à des mesures prises au synchrotron suisse SLS et à l'aide de simulations numériques. Ces résultats ont été publiés dans le journal scientifique « Nature ».